Sitzung des wissenschaftlichen Beirats der tm in München

Am 20./21. Juli 2011 tagte der wissenschaftliche Beirat der Zeitschrift „Technisches Messen“ (tm) in München. Nachdem im letzten Jahr Prof. Fischerauer, der dem Beirat seit 2008 angehört, als Gastgeber fungiert hatte, trafen sich die Mitglieder des hochrangig besetzten Gremiums diesmal auf Einladung des Oldenbourg-Verlags an dessen Stammsitz in München. tm ist die führende begutachtete Fachzeitschrift für anwendungsbezogene industrielle Messtechnik in Deutschland und fungiert in dieser Rolle auch als Organ der AMA (Fachverband für Sensorik e. V.) und der NAMUR (Interessensgemeinschaft Automatisierungstechnik in der Prozessindustrie). Daneben werden in der tm Mitteilungen der GMA (VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik) veröffentlicht. Bei der Beiratssitzung in München wurden unter der Leitung des verantwortlichen Herausgebers, Prof. Elmar Wagner, und der zuständigen Programmleiterin im Oldenbourg-Verlag, Angelika Sperlich, Weichenstellungen für die weitere thematische Ausrichtung der Zeitschrift vorgenommen.

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